您是否正在尝试确定您的设计是否安全，不会受随机硬件故障的影响，并且想要弄清一些安全指标，如单点故障指标 (SPFM)、潜在故障指标 (LFM) 和硬件失效概率指标 (PMHF)？如果是，您无疑需要同时权衡瞬态故障和永久故障。现实情况是，它们都需要被分析，在此基础上，我们发现两者之间存在相当多的差异。

本篇白皮书重点介绍数字电路永久故障和瞬态故障之间的根本区别，以及这种区别在ISO 26262:2018 功能安全标准背景下的重要意义。

集成电路中故障的来源多种多样：电磁干扰 (EMI)、辐射、电迁移、冲击、振动，等等。在某些情况下，了解具体的故障源非常重要，以方便采取针对性的措施。这时，合理的做法通常是将它们抽象为位翻转（瞬态）和固定故障（永久）。重要的是，这种抽象是 ISO 26262 标准所允许的。

 

▲永久故障与瞬态故障的比较

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来源：西门子EDA

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